| 图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
微电流数字源表可记录IV曲线
数字源表优势：四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，最小电流分辨率10pA，电流100pA~1A，电压0.3mV~300V，准确度为0.1%；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网； 源表突出特点：使用一台仪器进行多种测量；数字源表功能：①集合电压源、电流源、电
|
2024-11-21 |
 |
国产SMU数字源表仪器
数字源表是电学测试的必备仪器之一，是一种多用途仪器、特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域，源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求，只是差别在于输出范围、
|
2024-11-21 |
 |
科研机构专用数字源表
数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。测试测量仪器的用户除了电气工程师，出现越来越多非电子工程专业的技术人员，如电化学家、物理学家、材料科学家等，这些用户都需要快速得到测量数据，但缺少电气测量方面的基
|
2024-11-21 |
 |
压敏电阻电性能测试用源表
数字源表是电学测试的必备仪器之一，是一种多用途仪器、特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域，源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，普赛斯数字源表能广泛的应用于各种电气特性测试中，以下以压敏电阻
|
2024-11-21 |
 |
源表搭建四探针法测量半导体电阻率实验
电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况，需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是较常用的方法。四探针测试原
|
2024-11-21 |
 |
S型源表搭建半导体霍尔效应测试实验
半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段，可根据霍尔系数的符号判断材料的导电类型。霍尔效应本质上是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起的偏转，当带电粒子（电子或空穴）被约束在固体材料中，这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积，形成附加的横向电场。根据霍尔系数及其与
|
2024-11-21 |
 |
S型源表搭建激光二极管LD的LIV特性测试实验
LIV 即光电特性，是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中，为降低生产成本同时增加产品吞吐量，快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。根据Laser Diode工作原理，通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测
|
2024-11-21 |
 |
功率器件IV测试用源表
功率器件IV测试用源表功能：①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。②四象限工作，可作为源或负载S型数字源表与万用表的区别：源表相对传统电源的优势：传统电源过零时需要改变线连接方式，增加需要反复切换的机械开关，降低了设备的可靠性；且电源电压电流限制精度有
|
2024-11-21 |
产品分类